+86-13923829816
产品属性

VI-direct微干涉仪

VI-direct微干涉仪,直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8 mm至3.6 mm的光学零 件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件,如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。

资华贸易有限公司
联系方式: +852-23808060
电话号码::18318333238(陈先生)
电话号码:13923829816(曾先生)
地址: 香港,九龙,弥敦道789号健锋保险大厦11楼04室
产品介绍

VI-direct微干涉仪

微干涉仪VI-direct直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8 mm至3.6 mm的光学零件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件,如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。




特征:

   1、通过USB端口直接连接到PC,不需要帧抓取器

   2、高分辨率数码相机(1600x1200像素)

   3、因暴露时间短而对振动不敏感

   4、广泛的光学和机械配件

   5、可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得仪器在客户特定应用中的用途极其广泛。

   6、由于其紧凑的设计,干涉仪非常适合集成在特定应用的工作站中。

   7、使用Intomatik-S进行视觉或可选软件支持的评估

   8、光源:光纤耦合、稳定或非稳定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或稳定激光二极管(λ=635 nm)


技术参数:

Model

Micro-Interferometer VI-direct

Art. No.

244 318

Type of interferometer

Fizeau type

Camera resolution

1600x1200 Pixel

Laser

Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

test field diameter

0.8 to 3.6 mm

Measurement uncertainty with visual evaluation

λ/10

Measurement uncertainty with PC-based evaluation

λ/20


VI-direct微干涉仪

微干涉仪VI-direct直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8 mm至3.6 mm的光学零件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件,如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。




特征:

   1、通过USB端口直接连接到PC,不需要帧抓取器

   2、高分辨率数码相机(1600x1200像素)

   3、因暴露时间短而对振动不敏感

   4、广泛的光学和机械配件

   5、可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得仪器在客户特定应用中的用途极其广泛。

   6、由于其紧凑的设计,干涉仪非常适合集成在特定应用的工作站中。

   7、使用Intomatik-S进行视觉或可选软件支持的评估

   8、光源:光纤耦合、稳定或非稳定He-Ne激光器(λ=632.8 nm)或稳定激光二极管(λ=635 nm)


技术参数:

Model

Micro-Interferometer VI-direct

Art. No.

244 318

Type of interferometer

Fizeau type

Camera resolution

1600x1200 Pixel

Laser

Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength

test field diameter

0.8 to 3.6 mm

Measurement uncertainty with visual evaluation

λ/10

Measurement uncertainty with PC-based evaluation

λ/20


0 1